求纳米颗粒粒径分布分析方法(详细)
1XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。
2SAXS法通过测定中心的散射图谱就可以计算出材料的粒径分布。
3一般只需15min。测量准确，重现性好。可以获得粒度分布。激光相干光谱粒度分析法 通过光子相关光谱（PCS）法，可以测量粒子的迁移速率。而液体中的纳米颗粒以布朗运动为主，其运动速度取决于粒径，温度和粘度等因素。
4纳米颗粒是指在100纳米以下的，都叫纳米颗粒。测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪（也有低端国产的粒度仪），可以提供粒度报告，尺寸分布报告，体积分布报告，强度分布报告等多种数据。
5筛分法凭借一套精细的筛网，适用于松散样品，但其误差在所难免，适合于较大粒径的测定。接着，沉降法利用颗粒在介质中的沉降速度，对于微细粒物料的粒度分析尤为精准，但受限于74微米以下的颗粒。
怎么用photoshop计算图片中颗粒的粒径
1在使用PS颗粒80目时，需要在PS软件中打开图像，然后在“筛选”下找到“眨眼过滤”功能，选择您需要使用的“80目”颗粒细度。接下来，使用笔刷或其他工具，逐渐调整该滤镜的效果，直到达到您想要的图像效果。
2打开需要调整的图层并选择溶解模式。在图层面板中，将不透明度设置为一个较低的值，例如10%。通过使用画笔工具或橡擦工具，在图层上绘制或擦除一些区域，以改变颗粒大小。
3具体如下： 第一步，打开电脑中的photoshop cs6软件并进入主页。 第二步，使用组合键ctrl+O，就会弹出打开窗口，在其中选择要进行编辑的图片，然后点击右下方的打开按钮。 第三步，将图片导入软件并在软件中打开。
氧化锌压敏陶瓷sem图像怎么分析
图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
通过对试样结果的分析可得出如下结论：用化学级原料成功地制备出性能优异的SnO2压敏陶瓷，新型SnO2压敏陶瓷显示出优异的非线性电流——电压特性，与目前国内外市场上流行的ZnO压敏材料相比，其性能高于前者。
观察纳米材料：SEM具有很高的分辨率，可观察组成材料的颗粒或微晶尺寸（0.1-100 nm）。
