【知识】扫描电镜(SEM)知识大全
1扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
2扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
3电子光学系统：微观世界的造像大师SEM的电子光学系统负责产生极其细窄的电子束，通过精确扫描样品表面，捕捉每一个微小细节。
一文读懂常见工程材料表征技术
常用材料表征技术 光学金相显微术基础且直观的光学显微镜，凭借光的传播原理，揭示材料微观结构的奥秘。它是观察材料内部组织结构的入门级工具，通过折射和反射揭示微观世界。
TEM以及它的附件（电子衍射EDSEELS各种样品杆）是用来表征材料的形貌晶格结构和成分最有效的方法之一。比较经常用到的基于TEM的技术有以下几种。
光学显微镜（OM）：光学显微镜是一种常见的显微镜技术，可以通过对材料进行光学观察来获取微区结构的信息。OM适用于金属陶瓷等材料的表面和横截面观察。
透射电镜法：透射电镜是一种直观可靠的绝对尺度测定方法，对于纳米颗粒，它可以观察其大小形状，还可以根据像的衬度来估计颗粒的厚度，显微镜结合图像分析法还可以选择地进行观测和统计，分门别类给出粒度分布。
材料分析表征是两个概念。材料分析是对材料内在的结构和特性进行揭示的过程，分析基于试验或检测得出材料结构信息和特性数据。
主要包括纳米粒子的XRD表征纳米粒子透射电子显微镜及光谱分析纳米粒子的扫描透射电子显微术纳米团簇的扫描探针显微术纳米材料光谱学和自组装纳米结构材料的核磁共振表征。
如何测定材料的表征方法有哪些
为了表征材料的微区结构，可以使用多种实验和分析技术。以下是一些常见的方法：光学显微镜（OM）：光学显微镜是一种常见的显微镜技术，可以通过对材料进行光学观察来获取微区结构的信息。
形貌，电子显微镜（TEM），普通的是电子枪发射光电子，还有场发射的，分辨率和适应性更好。结构，一般是需要光电电子显微镜，扫描电子显微镜不行。晶形，单晶衍射仪，XRD，判断纳米粒子的晶形及结晶度。
红外光谱法，紫外光谱法，热分析法，扫描电镜，透射电镜。原子力显微镜，扫描隧道显微镜，电子显微探针分析，俄歇电子能谱法，气相色谱，液相色谱，质谱或气质联用，液质联用。核磁共振。
透射电镜法：透射电镜是一种直观可靠的绝对尺度测定方法，对于纳米颗粒，它可以观察其大小形状，还可以根据像的衬度来估计颗粒的厚度，显微镜结合图像分析法还可以选择地进行观测和统计，分门别类给出粒度分布。
粉末X射线衍射法，除了用于对固体样品进行物相分析外，还可用来测定晶体 结构的晶胞参数点阵型式及简单结构的原子坐标。
金属材料的强度通常可以通过拉伸试验来测试表征。拉伸试验是将一根金属样条放在拉伸试验机上，施加逐渐增加的拉力，同时测量材料在拉力作用下的应变和应力关系，以确定材料的强度特性。
