2020-02-08-2小刘科研笔记之FIB-SEM双束系统在材料研究中的应用
1聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。
2FIB-SEM FIB-SEM是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，在材料的表征分析中具有重要的作用。
3世纪90年代，FIB开始广泛应用于半导体微纳科研生命健康和地球科学等领域，如1985年Micrion的首次FIB系统交付，1988年FIB-SEM双束系统的问世，标志着技术的全面开花。
4例如，CT和X 射线显微镜可以无损探测，但分辨率相对较低，因此，初看材料时，就可以利用二者先观看形貌特征。扫描电镜具有更高分辨率，例如蔡司以扫描电镜为基础，推出 FIB-SEM 产品，可以实现高分辨率（3nm）的 3D 成像。
5③ 白刚玉抛光液：纯度高耐酸碱腐蚀耐高温热态性能稳定它硬度略高于棕刚玉，韧性稍低，自锐性好磨削能力强发热量小效率高热稳定性好。优势在于 （1）氧化铝抛光的抛光速率快二氧化硅抛光液易清洁。
【知识】扫描电镜(SEM)知识大全
扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
电子光学系统：微观世界的造像大师SEM的电子光学系统负责产生极其细窄的电子束，通过精确扫描样品表面，捕捉每一个微小细节。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
标尺50μm在SEM图像放大倍数有多少倍
标尺50μm在SEM图像中的放大倍数约为5倍。【点击了解产品详情】扫描电镜是一种高分辨率高放大倍数的显微镜技术，通过牛顿环原理和电子束扫描样品表面来获得样品的图像。
只知道标尺无法知道放大倍数。拿尺子量一下标尺，用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数。例如尺子量出标尺长10mm，标尺上标称10um，那么放大倍数就是10mm10um就是1000倍。
你是想问共聚焦50um标尺是放大了多少倍吗50um标尺是放大了50倍。um是微米，1微米等于0.001毫米，50微米就等于0.05毫米，因此50um是放大了50倍。
是。根据查询丁香园网显示，400倍显微镜标尺是500倍放50um，如果对精度要求不高，只是把标尺附到400倍金相图片上做大概参考的话是可以的。
倍。一般来说，材料类显微镜的放大倍数乘以标尺等于10000，比如标尺是200um，那么放大倍数是50倍。
放大倍数的确定不能仅凭标尺，需通过实际测量与标尺刻度的比值计算得出。例如，若标尺实际长度为10毫米，而其上标称10微米，放大倍数即10毫米除以10微米，结果为1000倍。
