sem右下角的标尺怎么看
用图片软件把标尺移到需要测量的位置。标尺就能清楚判断图中结构的尺寸，图中的层状结构就是到纳米尺度了。SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
步骤如下：确定标尺的单位是像素还是微米。找到标尺的起始刻度，这个起始刻度表示1单位的大小，读取刻度值。使用标尺来计算像素或微米与实际尺寸之间的关系。
是bar（标尺）的意思。表示那么长是等于50微米。因为不同放大倍数的显微镜拍出来的图不一样，但有了标尺你就可以知道尺度信息。
你给的文件中，上面那幅图中一堆亮的点是由于高度过大或者扫描参数没有调到最佳值，成像有点失真。对于高度的测量应该还有一个Z方向的标尺，通过AFM的相关软件可以直接分析。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。
转动鼓轮，移动金属丝至想度数的地方即可。读出视野内的刻度度数，以mm为单位，然后读出鼓轮上的数据，一般的鼓轮一圈分成100份，最小刻度就是0.01mm，加上估读即可，最后度数：内部刻度尺的度数为整数，鼓轮上为小数。
SEM和TEM区别
1性质不同 SEM：根据用户使用搜索引擎的方式利用用户检索信息的机会尽可能将营销信息传递给目标用户。TEM：把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。
2tem和sem区别如下：透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。电子种类不同。
3结构差异 二者之间结构差异主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。透射电镜（TEM）的样品在电子束中间，电子源在样品上方发射电子，经过聚光镜，然后穿透样品后，有后续的电磁透镜继续放大电子光束，最后投影在荧光屏幕上。
4SEMTEMXRDAESSTMAFM的区别主要是名称不同工作原理不同作用不同名称不同 SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。
扫描电子显微镜与透射电子显微镜
扫描电镜和透射电镜的区别在结构基本工作原理和对样品的要求上。结构差异 主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。
扫描电子显微镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。
透射电镜和扫描电镜的区别透射电镜和扫描电镜的区别：结构不同工作原理不同对样品的要求不同操作不同放大倍数不同用途不同等。
相同点：扫描电镜和透射电镜这两种设备都使用电子来获取样品的图像，它们的主要组成部分相同。不同点：利用的电子种类不同；观察的图像不同；样品制备要求不同；分辨率及其条件不同；成像原理不同。
方式不同：扫描电镜和电视扫描原理相同的成像方式，透射电镜和光学显微镜或者照相机成像原理相同的成像方式。实现不同：扫描电镜利用扫描透射电子显微镜可以观察较厚的试样和低衬度的试样。
TEM和SEM有什么区别
tem和sem区别如下：透射电镜（TEM）可以将样品放大5000万倍以上，而对于扫描电镜（SEM）来说，限制在1-2百万倍之间。电子种类不同。
SEMTEMXRDAESSTMAFM的区别主要是名称不同工作原理不同作用不同名称不同 SEM，英文全称：Scanningelectronmicroscope，中文称：扫描电子显微镜。
sem和tem的区别如下：结构差异 二者之间结构差异主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。
SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。
TEM和SEM的异同比较分析以及环境扫描电镜，场发射电镜与传统电镜相比较的技术特点和应用 xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。
最主要的区别是：SEM是通过反射的方式采集信号 TEM是通过透射的方式采集信号 样品属性大概必须都是固体，干燥无油尽量导电。TEM获得材料某个剖面的组织形态，sem获得的是材料表面或者是断面的组织形态。
透射电镜和扫描电镜的特点及应用(越全越好)
1透射电镜：透射电镜的原理是利用电子枪发射的高速电子束穿透样品，形成图像。扫描电镜：扫描电镜的原理则是利用电子枪发射的电子束在样品表面扫描，形成图像。观察型：主要用于观察样品的表面形貌。
2电子种类不同。透射电镜收集的是透过样品的电子，扫描电镜是把从样品表面反射出来的电子收集起来并使它们成像。观察得到的图像不同。
3透射式电镜常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结构，而扫描电镜主要用于观察固体表面的形貌和物质成分分析。透射式电镜的电子由钨丝热阴极发射出，通过第二两个聚光镜使电子束聚焦。
4扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
5透射电镜是以电子束透过样品经过聚焦与放大后所产生的物像， 投射到荧光屏上或照相底片上进行观察。透射电镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～几十万倍。
