SEM扫描电镜图怎么看,图上各参数都代表什么意思
第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
SEM中镜头倍率是指所观察图像上一厘米的实际长度和电镜上显示的长度之间的比例关系。在不同的观察镜头倍率下，图像的细节和清晰度也会发生变化。在扫描电镜（SEM）图像中，“La 100” 是指电子束聚焦的镜头倍率。
对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
SEM看的是形貌（好像是morphology）。就是从形貌上找你所需要的信息。比如，多孔，或者晶形很好等等。如果你所要求的结果和形貌完全不搭边，就没有看SEM的必要。
用sem分析合金金属表面形貌的什么内容
1分析和解释，通过观察SEM图像，分析样品的微观结构晶体形貌表面缺陷晶界颗粒分布。
2形貌：仪器放大倍数范围是100倍-20W倍，常规样品可以拍摄到8-10W倍，导电性不好或磁性样品大于8W倍可能会不清晰。
3从试样表面形貌获取多方面材料信息：SEM结合能谱可以测定金属及合金中各种元素的偏析，对金属间化合物相碳化物相氮化物相及铌化物相等进行观察和成分鉴定；对钢铁组织中晶界处夹杂物或第二相观察以及成分鉴定。
4金属材料表面分析是对金属表面或界面上只有几个原子层厚的薄层进行组分结构和能态等分析的材料物理试验。也是一种利用精密仪器分析手段，揭示材料及其制品的表面形貌成分结构或状态的技术。
5时间久了的最大问题是氧化，但是作为SEM观察，其实氧化也无所谓了，重要的是注意，别把断口碰了，以免裂纹表面形貌损坏。关于寻找裂纹源其实很简单，疲劳端口上通常分为裂纹起始区，裂纹扩展区和瞬断区。
6形貌衬度得形成就是由于某些信号，如二次电子背散射电子等，其强度就是试样表面倾角得函数，而试样表面微区形貌差别实际上就就是各微区表面相对于入射电子束得倾角不同。
比较在不同温度下烧结的某氧化物陶瓷的SEM形貌
在日用与工艺收藏瓷中，高温瓷指烧成温度在1300℃以上的釉彩，我国古代的釉下青花釉里红等传统瓷器，均为高温制成。
不同温度下晶粒生长情况不同的，一般要查看烧结后晶粒状况的话，要以烧结温度进行热处理。如果要查看晶体随温度变化的情况，您可以用不同温度对样品进行热处理，然后分别送样，这样才能体现晶体生长随温度变化的情况。
烧结后以不同速度冷却的氧化物陶瓷试样为什么可能显示明显的介电性能差异 压电性能和介电性能这是两个完全不同的应用概念。只有他们的介质都是陶瓷片，这个是共通的，外形也基本相同，两个极板夹着中间陶瓷介质。
℃。添加Bi2O3后的热蚀温度低于烧结温度105℃时，都能获得效果较好的SEM形貌。热蚀溶液的配方是5～15％NaOH，其余为水，热蚀温度为50～90℃，热蚀时间通常为20～120秒。
氧化铝陶瓷的烧结温度主要由其化学组成中Al2O3的含量来决定，Al2O3含量越高，瓷料的烧结温度越高，除此之外，还与瓷料组成系统各组成配比以及添加物种类有关。
如何用扫描电镜判断腐蚀程度
可以通过以下方法：观察灯丝表面是否有明显磨损或氧化腐蚀现象，如果有，则说明灯丝已经老化，需要更换。
金相是需要经过磨平，腐蚀来制备的。腐蚀的作用是将晶界上的物质腐蚀掉，这样境界处就出现凹下去的，和其他晶体表面（平的）就不一样了。电镜观察物体的表面形貌，也就是表面是什么样的。
试样要腐蚀并打磨平整，平整的表面在电镜下便于观察组织，若不腐蚀打磨，焊接产生的焊渣杂质及缺陷（如气孔，夹渣等）会影响观察。
原理不同：金相显微镜利用几何光学成像原理进行成像，扫描电镜利用高能量电子束轰击样品表面，激发出样品表面的各种物理信号，再利用不同的信号探测器接受物理信号转换成图像信息。
例如，你所讲的铸钢，在通常的盐雾试验后，其表面的腐蚀到底是均匀腐蚀还是非均匀腐蚀（孔蚀）是化学腐蚀电化学腐蚀还是符复合机制是沿晶界还是穿晶腐蚀等等这些，都需要你对界面和基体表层进行分析观察。
主要有以下几个方面：光源不同，金相显微镜以可见光为光源，扫描电镜以电子束为光源。
采用SEM观察材料形貌时应注意那些问题
材料的宏观性能往往与其本身的成分结构以及晶体缺陷中原子的位置等密切相关。观察试样中单个原子像是科学界长期追求的目标。一个原子的直径约为1千万分之2—3mm。
SEM就是观察表面形貌的一种方法。对于块状材料，如果观察断口形貌，则要把样品打断，将断口在丙酮中超声处理，去除碎渣，再喷碳或金。对于抛光样品，需要将抛光面腐蚀。腐蚀剂根据不同材料选择。
时间久了的最大问题是氧化，但是作为SEM观察，其实氧化也无所谓了，重要的是注意，别把断口碰了，以免裂纹表面形貌损坏。关于寻找裂纹源其实很简单，疲劳端口上通常分为裂纹起始区，裂纹扩展区和瞬断区。
扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
镀膜后的样品表面不再是原始材料，而是被镀膜材料所覆盖，这可能会导致原子序数衬度的丧失，甚至可能对样品形貌造成误导。
