用SEM测超薄薄膜厚度,如何制样才能保证导电性足够好
粉末样品 - 直接固定在导电胶带或液体胶上，注意剥离纸放置方法，确保样品牢固。 截面样品 - 硅片和玻璃需用玻璃刀切割，注意避开观察面，防止损伤。 薄膜样品 - 液氮粹断技术，可得到更精确的样品表面。
既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金引导电胶。
对于块状的非导电或导电性较差的材料，要先进行镀膜处理，在材料表面形成一层导电膜，以避免在电子束照射下产生电荷积累，影响图像质量，并可防止试样的热损伤。试样在高真空中能保持稳定。
如果要测Si元素，注意不要制样到硅片上。镀金：为了保证拍摄效果，一般导电差或者是强磁性的样品都需要镀金之后进行拍摄。
在钙钛矿太阳能电池的生产过程中，钙钛矿薄膜质量的好坏直接影响钙钛矿电池性能的优劣。
离子抛光 结束后可直接在真空中进行镀膜处理，无需破真空再进行镀膜，可防止样品氧化，一站式解决高端电镜制样需求；无油真空系统 ：无油机械泵+分子泵系统。
XRDIRSEMEDS及紫外可见吸收的测试原理及具体分析步骤(材料测试...
1XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。
2XRD测量纳米材料晶粒大小的原理是当材料晶粒的尺寸为纳米尺度时，其衍射峰型发生相应的宽化，通过对宽化的峰型进行测定并利用Scherrer公式计算得到不同晶面的晶粒尺寸。
3XRD的测试原理，是Bragg方程，即nλ=2*d*sinθ，其中λ为入射线波长，d为晶面间距，θ为衍射角。换言之，XRD对于晶体结构的测试才是有效的。
高分子材料测sem可以不用脆断吗
如果能液氮脆断最好！冷冻切片机也行，这个机子太贵，一般SEM实验室不配，去搞生物材料的TEM实验室应该有。
观察纳米材料：SEM具有很高的分辨率，可观察组成材料的颗粒或微晶尺寸（0.1-100 nm）。
直接用SEM观察样品沿纤维方向的拉伸断裂横截断面。【点击了解产品详情】在这种的电子显微镜中，电子束以光栅模式逐行扫描样品。电子由腔室顶端的电子源（俗称灯丝）产生。电子束发射是因为热能克服了材料的功函数。
用导电胶或特定的夹具固定样品，然后放在飞纳电镜的样品杯中，快速进样观察即可。【点击了解产品详情】纤维的最佳显微镜观察：扫描电子显微镜（SEM）由于扫描电镜（SEM）具有较高的景深和对比度，使其成为表征过滤材料的新标准。
聚合物想测SEM,如何制作样品
1既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金引导电胶。
2你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计，利用背景的亮度差别，其实效果不一定很好的。
3如果能液氮脆断最好！冷冻切片机也行，这个机子太贵，一般SEM实验室不配，去搞生物材料的TEM实验室应该有。
4聚合物的一般制样方法有以下四种[1]：（1）浇铸薄膜法，是在一定条件下将聚合物溶解于适当的溶剂中，然后将样品溶液滴在适当的载体上，挥发掉溶剂，将膜取下，制得样品膜。
sem扫描电镜是测什么的
1SEM描电镜主要应用于微观形貌颗粒尺寸微区组成元素分布元素价态和化学键晶体结构相组成结构缺陷晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用，可利用EDS进行元素成分定性定量分析。
2扫描电镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。
3SEM的工作原理与使用方法SEM的工作原理扫描电镜（SEM）是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。
4扫描电子显微镜（SEM）的基本结构及原理 扫描电镜基本上是由电子光学系统信号接收处理显示系统供电系统真空系统等四部分组成。图13-2-1是它的前两部分结构原理方框图。
5场发射扫描电子显微镜是电子显微镜的一种，扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
6扫描电镜（SEM）是什么 扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）于1965年左右发明，其利用二次电子背散射电子及特征X射线等信号来观察分析样品表面的形态特征，是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察方法。
