纳米颗粒粒径大小,粒径分布及表面测试的方法有哪些各种方法的特点是是...
1动态光散射也称光子相关光谱，是通过测量样品散射光强度的起伏变化得出样品的平均粒径及粒径分布。液体中纳米粒子以布朗运动为主，其运动速度取决于粒径温度和黏度系数等因素。
2XRD线宽法：一般可通过XRD图谱，利用Scherrer公式进行纳米颗粒尺寸的计算。XRD线宽法测量得到的是颗粒度而不是晶粒度。该方法是测定微细颗粒尺寸的最好方法。测量的颗粒尺寸范围为≤100nm。
3测粒度分布的有：筛分法沉降法激光法电感法（库尔特）。测比表面积的有：空气透过法（没淘汰）气体吸附法。直观的有：（电子）显微镜法全息照相法。显微镜法（Microscopy）SEMTEM；1nm～5μm范围。
4粒度的表示方法多种多样，包括直观的表格法图形展示（如直方图和曲线）以及数学函数（如Rosin-Rammler分布）。
怎么统计sem膜孔不规则孔径分布
dvdD如果材料的孔比较大，十几个nm以上，用dvdD做孔径分布。用dvdlogD容易出现峰。孔径分布图为累积孔容对孔径作图后，再对 D 求导得到。dVdD的孔 径分布图里（纵坐标 DVdw）。
水滴渗透法：利用水滴在膜上扩散过程中受到孔径大小和表面张力的影响，从而测得膜孔径信息。泡压法：这种方法是通过测量气体或液体通过膜孔的压力变化来推算孔径大小。
目前大致采用以下方法：直接测量法 直接法测膜孔径 （1）电子显微镜 扫描电镜（SEM）和透射电镜（TEM）电子显微镜表征膜的孔径孔径分布及膜的形态结构。制样至关重要。湿膜样品要经过脱水蒸镀复型等处理。
怎样预处理用SEM看粒子大小
另外。因为返工须将片剂重新粉碎关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题，观察片剂的外观及测定片重差异。
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
粒径分为晶体粒径，和颗粒粒径，如果楼主确定是要颗粒粒径的话，还可以通过SEM，或FE-SEM来看。然后通过相关软件数据统计。
氢氧化钴粒径用什么测定,怎么测定
钴标准溶液：称取0.5000g 金属钴（995%），溶于10mL 硝酸（1 +1）中，加10mL硫酸（1+1），加热至冒三氧化硫浓烟，取下，冷却，用水吹洗表面皿和杯壁，加30mL水，煮沸，冷却后移入1 L容量瓶中，用水定容。此溶液含钴0.5mgmL。
）草酸钴：取5 g试样于50mL瓷坩埚中，加入10mL左右的超纯硝酸，轻轻摇散至均匀，置低温电炉中加热，蒸发至干转变成氧化钴，驱尽氧化氮，转入750℃马弗炉灼烧半小时，取出冷却至室温，用玛瑙研钵研成粉末状备用。
钴和镍的测定范围为w（Co，Ni）=0.1%～5%。仪器 原子吸收光谱仪。试剂 盐酸。硝酸。氢氟酸。高氯酸。过氧化氢。
试样经盐酸硝酸氢氟酸高氯酸分解，再用盐酸溶解后，直接用电感耦合等离子体发射光谱法测定钡铍铈钴铜镧锂锰镍钪锶钒锌及主量元素氧化钙三氧化二铁氧化镁及氧化钠17种元素。
按试验方法测定3．00／lg·I 钴，以下离子不干扰测定，500倍的Fe抖Cu抖Zn抖，700倍的K+Na+Ca。+Mg +，50倍的Mn。+Cd。+Pb。+Ni抖。
其中氢氧化钴独特的片状结构和良好的氧化还原反应活性，使其成为合适的电极材料。但目前对于氢氧化钴纳米片的合成主要包括水热法老化法，这两种方法制备的氢氧化钴粒径不均匀，分散不均匀，厚度较大。
