如何分析SEM扫描电镜图片
1线扫描和面扫描则提供了元素在空间分布的直观图像，线分析用于材料表面改性研究，而面扫描则在试样表面元素分布的可视化上表现卓越，尽管它对低含量元素的检测稍显不足。
2放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
3使用SEM扫描电镜进行扫描，获取影像对所获得影像进行处理，根据微相特征和形态信息进行分析。利用图像处理软件对图像进行处理，提取具有代表性的信息。通过图像分析软件进行图像分析，得出相应的结果。
4第扫描电镜照片是灰度图像，分为二次电子像和背散射电子像，主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌，基本和自然光反映的形貌一致，特殊情况需要对比分析。
5扫描电镜图像简单，景深大，图像立体感强，基本上看到的就是sample的原貌，如图就是一束纳米线，很直观，不用复杂的衬度理论。
金相用sem怎么看
放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。
观察纳米材料：SEM具有很高的分辨率，可观察组成材料的颗粒或微晶尺寸（0.1-100 nm）。
一般用Keller试剂腐蚀，更常用的是阳极覆膜。个人感觉用电解抛光制样，比较容易腐蚀出晶界。铝合金要看晶粒度一般需要电解抛光和阳极制膜，然后偏振光显微镜下观察。或用SEM的EBSD进行观察。
抛光后的试样在金相显微镜下观察，只能看到光亮的磨面，如果有划痕水迹或材料中的非金属夹杂物石墨以及裂纹等也可以看出来，但是要分析金相组织还必须进行浸蚀。
将样品抛光的非常平整。观察样品表面的结晶方向。通过结晶方向判断抛光界面。
如果看金相，需要从形状形貌上来鉴别是什么相，肯定需要腐蚀，因为SEM成像，需要有确切的形貌存在，例如镜面抛光后，图像没有形貌反差，也就无从鉴定相。
sem为什么有些地方亮
根据查询sem相关资料得知，sem越扫描越亮因为对应在图像中就越亮。所定义的感兴趣元素在显示器上以不同颜色的点分别显示出分布图像，并且与采集的二次电子图象相对应，直观明了，点越多亮度越亮，说明元素含量越高。
这个不是荷电，是黑电平电路某个原器件引起的黑电平大幅度改变。
较低。sem下p管和n管的电阻都是比较高的，所以亮暗程度会比较低，亮度的不同主要来自于两类衬度。扫描电子显微镜（sem）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。
背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况，越亮的区域，原子序数越高。第看表面形貌，电子成像，亮的区域高，暗的区域低 非常薄的薄膜，背散射电子会造成假像。导电性差时，电子积聚也会造成假像。
如何获得清晰的扫描电镜(SEM)图像
1关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。
2检查仪器的参数设置，适当提高分辨率，以获得更清晰的图像。 样品制备问题：样品制备质量不好也可能导致SEM图像出现马赛克。确保样品表面光洁，避免灰尘脏物或不均匀涂层的干扰。
3图像处理 对于SEM扫描电镜图片的分析，通常需要进行一些预处理步骤，以增强图像的清晰度，提高分析的准确性。这些处理可能包括噪声去除对比度增强图像锐化等。
4扫描电镜高倍调不清楚是因为扫描电镜灯丝有没有调整好，放大倍数是否超出电镜有效放大倍数。扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
5为了消除放电现象，我们通常的解决问题的方法是降低扫描电镜样品室的真空度，这样可以将样品表面的引入正电荷的分子，它可以与放电电子相互中和，从而消除放电现象，但是此种方法并不是获取高分辨率的图像的有限办法。
6sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用，扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接收放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。
扫描电镜图像很模糊雪花状
1样品制备问题：样品制备不当也会导致SEM图像质量下降，例如，样品表面处理不干净过度蒸镀过度溅射等问题都可能导致图像模糊。
2打开扫描电镜图点击新建图层。其次选择涂色目标区域，在颜色面板中选择适合的颜色。最后将雪花处理即可。
3可能是放入的样品受潮或送样杆污染引起样品交换室发生稍微漏气。取出样品，用红外灯烘烤，观察无样品时的抽真空速度。
